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功能材料電學(xué)綜合測試系統(tǒng)、絕緣診斷測試系統(tǒng)、高低溫介電溫譜測試儀、極化裝置與電源、高壓放大器、PVDV薄膜極化、高低溫冷熱臺(tái)、鐵電壓電熱釋電測試儀、絕緣材料電學(xué)性能綜合測試平臺(tái)、電擊穿強(qiáng)度試驗(yàn)儀、耐電弧試驗(yàn)儀、高壓漏電起痕測試儀、沖擊電壓試驗(yàn)儀、儲(chǔ)能材料電學(xué)測控系統(tǒng)、壓電傳感器測控系統(tǒng)。
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介電常數(shù)與介質(zhì)損耗試驗(yàn)儀
發(fā)布時(shí)間:2026-01-15
介電常數(shù)及介質(zhì)損耗分析系統(tǒng)是用于測量高壓絕緣材料電氣性能的儀器。該系統(tǒng)基于鎖相放大器原理,能夠準(zhǔn)確測量電容和電感負(fù)載,尤其在旁路電抗器等感性負(fù)載測試中。其測量結(jié)果具有重復(fù)性和穩(wěn)定性。該系統(tǒng)支持手動(dòng)與自動(dòng)兩種測試模式。手動(dòng)模式適用于快速單次測量,自動(dòng)模式則可用于執(zhí)行復(fù)雜的測試序列,...
詳情
2024
8-28
高頻高壓絕緣電阻、介電測試系統(tǒng)是什么?
產(chǎn)品概述:系統(tǒng)通過測量被測物絕緣各個(gè)頻率下的泄漏電流,利用數(shù)據(jù)模型對測量結(jié)果進(jìn)行分析從而得到固體絕緣材料的電導(dǎo)率、絕緣油的電導(dǎo)率/介損以及參考溫度下的介損、電阻等參數(shù),由于模型能夠精確補(bǔ)償溫度對測試結(jié)果的影響,因此測試可在任何溫度下進(jìn)行。絕...
2024
8-26
鎖相放大器在低介電常數(shù)材料測量中的應(yīng)用
隨著集成電路和通信技術(shù)的高速發(fā)展,低介常數(shù)材料(Low-K)被廣泛的應(yīng)用,一般我們將K值<3的材料稱為低介電常數(shù)材料,但在新一代集成電路中,很多器件要求材料的K值<2.5,國際器件與系統(tǒng)藍(lán)圖(IRDS)還建議在2028年前,開發(fā)出K值<2的...
2024
8-22
簡單了解下可一機(jī)多用,具有強(qiáng)大的擴(kuò)展能力 的絕緣材料電阻評(píng)價(jià)平臺(tái)!
簡單了解下可一機(jī)多用,具有強(qiáng)大的擴(kuò)展能力的絕緣材料電阻評(píng)價(jià)平臺(tái)!絕緣材料電阻評(píng)價(jià)平臺(tái)運(yùn)用平行板法設(shè)計(jì)原理測量。該儀器設(shè)計(jì)符合《GB/T10518-2006絕緣材料在高溫下電阻和電阻率試驗(yàn)方法》標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)開發(fā),并參考美國ASTM標(biāo)準(zhǔn)。利用新穎的...
2024
8-21
半導(dǎo)體封裝材料高溫絕緣電阻測試系統(tǒng)的產(chǎn)品優(yōu)勢?
半導(dǎo)體封裝材料高溫絕緣電阻測試系統(tǒng)半導(dǎo)體封裝材料高溫絕緣電阻測試系統(tǒng)產(chǎn)品介紹:絕緣材料電阻評(píng)價(jià)平臺(tái)運(yùn)用三電極法設(shè)計(jì)原理測量。利用新穎的電阻測試系統(tǒng),重復(fù)性與穩(wěn)定性好,提升了夾具的抗干擾能力,同時(shí)大大提高精確度,可應(yīng)用于產(chǎn)品檢測以及新材料電學(xué)...
2024
8-20
Huace鐵電分析儀可以根據(jù)不同用戶需求進(jìn)行靈活配置,又可實(shí)現(xiàn)哪些功能?
Huace鐵電分析儀可以根據(jù)不同用戶需求進(jìn)行靈活配置,擴(kuò)展后又可實(shí)現(xiàn)哪些功能呢?HuaceFE-3000鐵電分析儀有著寬頻率響應(yīng)范圍及寬測試電壓范圍,該系統(tǒng)可廣泛地應(yīng)用于如各類鐵電/壓電/熱釋電薄膜、厚膜、塊體材料和電子陶瓷、鐵電傳感器/執(zhí)...
2024
8-19
什么是半導(dǎo)體封裝材料TSDC測試系統(tǒng)?
什么是半導(dǎo)體封裝材料TSDC測試系統(tǒng)?熱刺激理論是在介質(zhì)物理的基礎(chǔ)上發(fā)展起來的,研究這一理論的方法即熱刺激法比較簡單實(shí)用而且又能較準(zhǔn)確地測量出某些物質(zhì)(如電介質(zhì)、絕緣材料、半導(dǎo)體、駐極體等)的微觀參數(shù),熱刺激法是一面對材料升溫一面進(jìn)行測量,...
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